|
РУС | ENG
| |
|
Быков Виктор АлександровичРодился 19.09.1950 в Саратове. Генеральный директор ЗАО «Нанотехнология МДТ» (с 1995). Специалист в области нанотехнологий, сканирующей зондовой микроскопии, молекулярно-упорядоченных структур и методам нанодиагностики. Окончил Московский физико-технический институт (1973, г. Долгопрудный). К. ф.-м. н. (1998). Д. т. н. (2001). Профессор кафедры микроэлектроники МФТИ (н.в.). С 1973 по 2003 гг. работал в Научно-исследовательском институте физических проблем им. Ф.В. Лукина (ныне ГНЦ «НИИФП», Зеленоград): инженер, мл. научный сотрудник, ст. инженер, ведущий инженер, и.о. начальника лаборатории, начальник отдела. Возглавлял исследования в области молекулярно-упорядоченных структур. В результате разработан метод ориентации жидких кристаллов, применяемый в производстве ЖК индикаторов, создан новый класс материалов, созданы опытные образцы экранов (1985-1990). Руководил разработкой СТМ-4 (1990), СОЛВЕР (1995), ИНТЕГРА (2004), НАНОФАБ (2006). В процессе создания СТМ-4 освоено новое производство. Под руководством В.А. Быкова разработаны аналитико-технологические комплексы, включающие более 40 зондовых методик наноизмерений и нанотехнологических воздействий. Автор и соавтор более 160 научных трудов, в том числе 60 заявок на изобретения и патентов. Один из соавторов и руководителей Государственной Программы «Молекулярная электроника». Руководитель проекта «Молекулярная нанотехнология» (н.в.). Председатель Российского общества сканирующей зондовой микроскопии, председатель Гильдии предприятий высоких технологий и инноваций Московской торгово-промышленной палаты, член Центрального правления Нанотехнологического общества России. Лауреат премии Правительства РФ в области науки и техники 2004 г. |