Регистрация | Забыли свой пароль?

Поиск


 



Многофункциональный рентгеновский рефлектометр для контроля параметров наноструктур

... М. Сенков Описан измерительный комплекс для исследования наноструктур на базе рентгеновского рефлектометра. Представленное оборудование отличается от приборов аналогичного назначения тем, что его запатентованная рентгенооптическая схема обеспечивает параллельные измерения данных на нескольких спектральных линиях. Скачать статью

Изменен: 11.11.2010
наноструктуры , рефлектометр , оборудование , рефлектометрия , рефрактометрия , скачать
Путь: Главная – Нанотехнологическое общество России / Наука / Библиотека

Послойный анализ углеводородных покрытий на основе спектроскопии отраженных электронов

... водород. В данных условиях рост пленок на подложках в основном обеспечивался поступлением на ее поверхность нейтральных радикалов, продуктов разложения этилена. Конечная структура пленок определялась соотношением потоков углерода и атомарного водорода. Скачать статью

Изменен: 26.10.2010
анализ , углеводородные покрытия , оборудование , конструкционные материалы , кремниевые , подложки , скачать
Путь: Главная – Нанотехнологическое общество России / Наука / Библиотека

Сортировать по релевантности | Отсортировано по дате