Поиск

Рефлектометрические исследования поверхности монокристаллического кремния и напыленной на нее нанопленки углерода

А. А. Кряжев Институт геологии Коми НЦ УрО РАН, Сыктывкар, Россия Для диагностики поверхностных изменений используется метод рентгеновской рефлектометрии. Данный метод основан на явлении полного внешнего отражения рентгеновских лучей от поверхности исследуемого материала. С помощью него можно определить шероховатость поверхности, а также оценить физические и геометрические свойства приповерхностных слоёв, что может быть полезно в технологии создания полупроводниковых приборов, где широко использ

Получение наногетероэпитаксильных структур с квантовыми точками

... растворителя и релаксации импульса охлаждения приводит к формированию КТ близких к идеальным, что открывает возможность создания на основе наноструктур высокоэффективных солнечных элементов с КТ, а также на получение таких структур на дешевых инородных подложках. Лунин Л.С. 1 , Марончук И.Е. 2 , Сысоев И.А. 3 1 Южно-Российский государственный технический университет, Россия. 2 Севастопольский национальный университет ядерной энергии и промышленности, Украина. 3 Северо-Кавказский государственный...

Отсортировано по релевантности | Сортировать по дате